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生产线上半导体激光器特性测量
发布时间:2019-05-16 14:05:04  浏览次数: 次  来源:本站
    当前半导体激光器在工业和科学技术研究中得到广泛应用,但是激光光漂以及出射角度和远场特性,往往直接影响后续产品集成的质量和良率。
    传统的测试手段是将探测器安装在多维扫描的位移臂上,以实现激光远场特性的测试和分析。这种方法是按照经典理论的方法来实现,但是问题是成本造价高,系统复杂在生产线上稳定性降低,最难以接受的是测试速度慢。昂科光电2018年以来,基于合作客户的需求,创新采用全新测试静态系统,排除所有运动器件,采用高速并行计算,将测量速度提高10倍以上,极大的提高了测试效率得到客户们的肯定和赞扬!
    十年以来,昂科光电长期专注于为新老客户提供最有竞争力的产品和服务,昂科光电坚持长期的路线不变,并且不断加大新品研发,为新老客户提供更高质量的产品和服务,也感谢广大客户的信任和支持!
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