产品概述

Wavapex-Hartmann Pro哈特曼面形波前测试仪，是适配科研实验、车间量产、成品终检全场景的高精度光学检测设备。该产品环境适应性强、检测效率高、综合成本低、维护简便，专为光学元件规模化质检场景打造。

设备搭载专业级光学分析软件，不仅可完成平面、球面光学元件的面形参数数字化精准测量与实时监测，还可实现激光光束质量（M²、PV、RMS）及光束动态变化的全过程诊断。可一键输出PV、RMS、PWR、SAG、IRR等全套核心光学参数，完整获取光束空间、时域多维数据，可精准识别面形缺陷、排查工艺异常，是光学镜片量产质检、光学系统波前畸变检测、激光光束品质分析的核心设备。 

产品核心特点

   1）环境适应性强，适配车间量产

   2）操作简单，检测效率高

   3）模块化结构设计，性价比突出

   4）功能全面，参数覆盖广 

产品应用领城

   1）各类光学元件面形与波前误差测试（包括C-lens、G-lens等透镜）

   2）平面镜、球面镜等常规光学元件面形参数测量

   3）光学系统整机波前畸变检测与误差分析，可完成 Zernike像差分析、PSF/MTF计算等

   4）激光光束质量评估，包括光束准直、M²质量、光束稳定性、动态变化实时监测

   5）光学镜头、望远镜等光学系统像差检测与装调等

产品参数指标

软件界面