产品概述
Dyna-Opti系列动态干涉仪，是一款具备强环境适应性、纳米级测量精度的光学精密检测仪器。它以核心动态测量技术与先进数字波面提取算法为支撑，适合振动环境下的高精度形貌测量，广泛应用于光学制造、半导体、航空航天、国防军工与科学研究等领域，是兼顾精度、效率与便捷性的高端光学检测核心装备。
Dyna-Opti具备纳米级测量精度与高效便捷的操作流程，可精准获取元件表面微观特征。配套软件提供PV、RMS、IRR、Zernike多项式系数、Seidel像差系数等完整面形评价体系，支持2D/3D形貌可视化与数据输出，可根据客户需求定制专属测量模块，是高端光学器件研发与生产中，兼具精度、效率与环境适应性的核心检测装备。
适用场景
（1）适合长光程、大口径光学元件现场检测、大口径光学系统的装调，无需隔振系统，可减小气流的影响
（2）适合振动环境下的高精度测量
（3）适合变化过程的测量
产品特点
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强抗干扰性：有效抑制环境扰动，可在车间等复杂工况下稳定测量。
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可实时测量：能够实现实时测量适用于高速、动态的测量场景。
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长距离测量：能够克服超长光路造成的振动和大气扰动的影响，实现超大口径凹/非球面的精密检测。
产品参数
软件界面
软件内置完整面形评价体系（PV、RMS、IRR、Zernike多项式系数、Seidel像差系数等），支持2D/3D形貌可视化与数据导出；可根据客户需求定制专属测量模块，实现一键式自动化测量与分析，显著降低操作人员学习与操作成本。
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